产品详情
- 测量方式：斐索干涉原理
通光口径：60mm
测试波长：635nm（半导体激光器）
对准方式：简单两点对准
对准视场：±0.5度
平面标准镜精度：PV：λ/10
- 适用的材料包括：
• 硅基材料（Si，a-Si，poly Si）
• III-V材料（GaAs、InP、GaSb等）
• 第三代半导体材料（SiC、GaN 等）
• 红外材料（CZT、MCT等）
• 光电材料（LiNbO?、LiTaO?、SiO?等）
• 金属材料（Au、Cu、Al、Mo、TC4等） - 应用的范围包括:
• MEMS
• 半导体器件
• 半导体衬底
• 封装 -
免责声明：以上所展示的信息由企业自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布企业负责，重工机械网对此不承担任何保证责任。
